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西門子雷達(dá)物位計(jì)工業(yè)首用產(chǎn)品

簡要描述：西門子雷達(dá)物位計(jì)工業(yè)首用產(chǎn)品
雷達(dá)物位計(jì)的基本設(shè)定
1）根據(jù)物位計(jì)測量儲罐的形狀，設(shè)定儲罐特性。
2）根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3）在過程條件一項(xiàng)選擇所測介質(zhì)的過程變化情況，如果是桿式的雷達(dá)物位計(jì)，還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4）接下來按照工藝要求設(shè)定物位計(jì)的空標(biāo)和滿標(biāo)值，如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。
5）根據(jù)設(shè)定的空標(biāo)值做全程抑制。

• 產(chǎn)品型號：
• 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
• 更新時(shí)間：2016-08-23
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西門子雷達(dá)物位計(jì)工業(yè)首用產(chǎn)品，在公司的生產(chǎn)車間，物位作為重要的過程參數(shù)已成為判斷生產(chǎn)過程的效率、工作狀況及經(jīng)濟(jì)性能的重要指標(biāo)，物位測量儀表在連續(xù)與離散控制系統(tǒng)中的作用日趨突出，業(yè)主對測量儀表的精確測量、穩(wěn)定可靠、多功能、智能化的要求也越來越高。雷達(dá)物位計(jì)是近年逐步在現(xiàn)場應(yīng)用的*測量技術(shù)。在使用過程中也暴露出一些問題，主要是設(shè)計(jì)選型失誤。由于雷達(dá)物位計(jì)種類和品牌較多，如果在設(shè)計(jì)階段不能結(jié)合工礦條件選擇適宜的產(chǎn)品，就可能造成雷達(dá)物位計(jì)無法正常使用。

1.概述
西門子雷達(dá)物位計(jì)進(jìn)入市場，由于測量精度高、耐高溫高壓的能力強(qiáng)，以及采用非接觸的測量方式，成為過程控制工業(yè)罐區(qū)物位監(jiān)測的*儀表，受到廣大技術(shù)人員的歡迎。

2．雷達(dá)物位計(jì)的測量原理與分類
2.1測量原理
西門子雷達(dá)物位計(jì)主要由雷達(dá)探測器（一次表）和雷達(dá)顯示儀（二次表）組成。雷達(dá)探測器主要由主體、連接法蘭和天線三部分組成。天線分為喇叭型和直接與波導(dǎo)管連接兩種形式。雷達(dá)顯示儀提供連接上位計(jì)算機(jī)的RS-485接口，可以傳遞物位等參數(shù)及報(bào)警信號，亦可通過上位計(jì)算機(jī)對智能雷達(dá)顯示儀進(jìn)行控制。

雷達(dá)探測器采用的是線性調(diào)頻連續(xù)波測距原理：天線發(fā)射的微波是頻率波線性調(diào)制的連續(xù)波，當(dāng)回波被天線接收到時(shí)，天線發(fā)射頻率已經(jīng)改變。根據(jù)回波與發(fā)射波的頻率差可以計(jì)算出物料面的距離。FMCW方式測量線路較復(fù)雜，從而測量精確度較高，同時(shí)干擾回波也較易去除，一般用于較的測量方案。雷達(dá)探測器的主體中包括微波信號源、信號處理部分。工作過程中，微波信號源輸出一個(gè)波幅恒定的線性調(diào)頻的微波信號，其產(chǎn)生的頻率輸出：發(fā)射頻率隨時(shí)間線性增加，增加的斜率為k，當(dāng)發(fā)射出去的連續(xù)波遇到液面發(fā)射時(shí)，發(fā)射回來的信號頻率如圖1中點(diǎn)劃線所示，它比發(fā)射信號滯后了一定時(shí)間τ。西門子雷達(dá)物位計(jì)工業(yè)首用產(chǎn)品

根據(jù)微波傳播原理知道：
τ＝2R/C（1）
式中C是微波在空間中的傳播速度3×108km/s，R是液面距雷達(dá)物位儀的距離。
由于回波信號頻率的滯后，使得反射頻率與發(fā)射信號頻率之間的差頻為：
f=kτ（2）
將以上兩式合并后可以得到：
R=C×f/2k
顯然R與f是成正比的，反射液面離物位儀的距離越遠(yuǎn)所產(chǎn)生的差頻頻率f越大，因此可計(jì)算天線到反射面的距離。
信號處理部分則對回波信號與發(fā)射信號的混合信號進(jìn)行處理，通過測量混合信號頻譜，用快速傅立葉變換（FFT）來計(jì)算混合信號，從中對混合信號頻譜進(jìn)行分析，排除掉干擾信號，然后確定天線到反射界面的距離，從而完成測量。

2.2優(yōu)點(diǎn)特性
雷達(dá)物位計(jì)采用非接觸式測量方法。目前較成熟的非接觸測量技術(shù)有超聲波、核輻射和微波。而在化工、石化等過程工業(yè)領(lǐng)域，由于被測介質(zhì)普遍存在高溫、高壓、腐蝕、揮發(fā)、冷凝等復(fù)雜工況，且對測量儀表有防爆要求。相比與超聲波，微波傳播的自身特點(diǎn)決定了雷達(dá)物位計(jì)的使用優(yōu)勢：
1)定向傳播。
2)準(zhǔn)光學(xué)特性。
3)傳輸特性好。
4)介質(zhì)對微波吸收與介質(zhì)的介電常數(shù)成比例。

由其自身特性決定，雷達(dá)物位計(jì)在使用上具有以下優(yōu)勢：
1)連續(xù)準(zhǔn)確測量：由于雷達(dá)物位計(jì)不與被測介質(zhì)接觸，且受溫度、壓力、氣體等影響非常小。
2)維護(hù)方便，操作簡單：雷達(dá)物位計(jì)具有故障報(bào)警及自診斷功能。
3)適用范圍廣：非接觸式測量，方向性好，傳輸損耗小，可測介質(zhì)多。
4)安裝簡單：在各行業(yè)應(yīng)用中，雷達(dá)物位計(jì)可直接安裝到儲罐頂部，安裝十分簡單。
雷達(dá)物位計(jì)通常分為脈沖雷達(dá)和調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)（FMCW）兩種。脈沖雷達(dá)的工作模式與超聲物位計(jì)相似:天線周期地發(fā)射微波脈沖，并接收物料面回波，同時(shí)對回波信號進(jìn)行分析處理，確認(rèn)有效回波，據(jù)之計(jì)算物位。線性調(diào)頻連續(xù)波測距原理：天線發(fā)射的微波是頻率波線性調(diào)制的連續(xù)波，當(dāng)回波被天線接收到時(shí)，天線發(fā)射頻率已經(jīng)改變。根據(jù)回波與發(fā)射波的頻率差可以計(jì)算出物料面的距離。E+H公司的雷達(dá)物位計(jì)基本采用脈沖雷達(dá)原理。西門子公司LR400系列采用調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)原理，LR300系列采用脈沖雷達(dá)原理。

2.3特性分類
按發(fā)射雷達(dá)波的頻率分，可分為高頻雷達(dá)和低頻雷達(dá)。高頻雷達(dá)發(fā)射的20GHz以上的高頻微波，根據(jù)波的特性：速度=波長*頻率，我們可以得知24GHz高頻的微波的波長較其他頻段的雷達(dá)波的波長要短的多。一般的講，固體料面的形狀是傾斜而且粗糙的，較小的波長可以zui大程度上保證發(fā)射出去的雷達(dá)波能夠在粗糙的固體表面zui大程度地被反射回雷達(dá)探頭。因而高頻雷達(dá)主要應(yīng)用于固體介質(zhì)和大量程場合的測量。低頻雷達(dá)發(fā)射微波頻率在100MHZ~6MHZ，主要應(yīng)用于液體介質(zhì)和小量程場合的測量。

按天線的形式分，可分為普通雷達(dá)和導(dǎo)波雷達(dá)。普通雷達(dá)發(fā)射的微波通過空間傳播。導(dǎo)波雷達(dá)則是通過波導(dǎo)體傳導(dǎo)來發(fā)射和接收電磁波的物位測量儀表。
導(dǎo)波雷達(dá)測量原理的基礎(chǔ)是電磁波的時(shí)域反射性，該原理用于物位測量時(shí)，微波發(fā)生器每秒中產(chǎn)生20萬個(gè)能量脈沖并發(fā)送入波導(dǎo)體，波導(dǎo)體與液體表面的接觸時(shí)，由于波導(dǎo)體在氣體中和液體中的導(dǎo)電性能大不相同，這種波導(dǎo)體導(dǎo)電性的改變使波導(dǎo)體的阻抗發(fā)生聚燃變化，從而產(chǎn)生一個(gè)物位反射原始脈沖。

3．雷達(dá)物位計(jì)使用的注意事項(xiàng)
3.1介電常數(shù)的影響
低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測介質(zhì)，優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴(yán)重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強(qiáng)的電磁波信號，并采用功能強(qiáng)的微處理器進(jìn)行復(fù)雜的信號處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達(dá)物位計(jì)價(jià)格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問題。導(dǎo)波雷達(dá)和常規(guī)雷達(dá)一樣，采用傳輸時(shí)間來測量介質(zhì)物位，信號自烴類液體表面或自水面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號幅度的差別。普通雷達(dá)須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導(dǎo)波雷達(dá)僅需測量電磁波的傳輸時(shí)間即可，無需信號的處理和辨別。

3.2固體物料測量
對于粉狀物料，可以選擇纜式導(dǎo)波雷達(dá)。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用E+H公司的FMP40系列的纜式導(dǎo)波雷達(dá)，測量效果良好。對于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達(dá)物位計(jì)。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因?yàn)槲⒉ǖ念l率越高，微波的波長越短，保證發(fā)射出去的雷達(dá)波能夠在粗糙的固體表面zui大程度地被反射回雷達(dá)探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。

3.3液體、物位的測量
對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達(dá)物位計(jì)。對于液面波動(dòng)大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。因?yàn)閷?dǎo)波管對液面有整型作用，且導(dǎo)波雷達(dá)的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強(qiáng)的情況，不能選擇導(dǎo)波管方式測量，因?yàn)檎掣胶徒Y(jié)晶會堵死導(dǎo)波管。從而形成虛假物位?？梢赃x擇導(dǎo)波桿方式來測量。當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時(shí)，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測量誤差，當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個(gè)波導(dǎo)體之間時(shí)，就會在該點(diǎn)測得虛假物位。

3.4雷達(dá)物位計(jì)的基本設(shè)定
1)根據(jù)物位計(jì)測量儲罐的形狀，設(shè)定儲罐特性。
2)根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3)在過程條件一項(xiàng)選擇所測介質(zhì)的過程變化情況，如果是桿式的雷達(dá)物位計(jì)，還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4)接下來按照工藝要求設(shè)定物位計(jì)的空標(biāo)和滿標(biāo)值，如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。
5)根據(jù)設(shè)定的空標(biāo)值做全程抑制。

4．結(jié)束語
近年來，中國經(jīng)濟(jì)迅速發(fā)展，石油、化工、醫(yī)藥、食品等過程工業(yè)領(lǐng)域?qū)走_(dá)物位計(jì)的需求也將越來越大。相信雷達(dá)物位計(jì)將會有更好的明天，我們將不斷提高現(xiàn)有雷達(dá)物位計(jì)技術(shù)水平和開發(fā)新型的物位計(jì)，為用戶提供更好的服務(wù)。Madshen品牌具有美國知識產(chǎn)權(quán)雷達(dá)物位計(jì)的面世，為中國用戶提供了更大的選擇空間，也為他們優(yōu)化成本、合理配置資源提供了更大的方便。

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